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dsPIC33EP512MU814/810 高溫USB通訊失效
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1. 機台使用dsPIC33EP512MU814 (規格應耐+85度C)電路板進行高溫環境測試, 於溫度達40度C時即發生USB通訊失效.
2. 另改用台灣 Microchip 製作之 APP-EDF-11-2(dsPIC33EP512MU810, 規格應耐+85度C)測試, 於溫度達40度C時亦發生USB通訊失效.

=> 此2片電路板係使用不同廠牌之8MHz Cystal, 故推測非Cystal 問題, 上述測試軟件已簡化為僅測試 USB通訊部分, 測試時亦皆使用 Microchip 之 Beagle™ USB 12 Protocol Analyzer 作監測.

煩請各位先進提供建議及可能解決方案, 多謝協助!

3月12日 18:18:59
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Re: dsPIC33EP512MU814/810 高溫USB通訊失效
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如果執行一些 USB Demo 程式 也會失效嗎?

失效時 dsPIC USB module 有甚麼錯誤的信息嗎?

3月12日 23:35:31
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Re: dsPIC33EP512MU814/810 高溫USB通訊失效
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今日上午以台灣 Microchip 製作之 APP-EDF-11-2作測試, APP-EDF-11-2 每500 ms送出 2 筆 Message給 host.
當測試溫度約40度出現首次失效, 當測試溫度約50C度開始頻繁失效如附件所示, 當時以溫槍量測dsPIC33EP512MU810溫度約55度C,
而 dsPIC33EP512MU810 ​規格應耐 +85度C.
​敬請參考並惠予協助. 謝謝!

附加檔案:



jpg  USB_hot_Fail1.jpg (308.75 KB)
1026_5aa7391e3d01c.jpg 1065X680 px

3月13日 10:36:45
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