Re: SAMD21J18A 如何打出test pattern做USB 眼圖測試
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管理員
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您好, USB的測試方式及規範可參閱 USB-IF 這份文件,
https://www.usb.org/sites/default/file ... nd%20OTG%20MOI%201.01.pdf SAMD21系列的MCU, 在Datacheet USB章節 32.10.1中, 有關於Test Pattern設置的暫存器, 但是目前並沒有現成的範例可以提供驗證 以上資訊提供您參考.
發表於: 12/6 8:18
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PICKIT3 無法連接
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新會員
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請問一下, 軟件是 MPLAB X IPE V5.20 , 燒錄器是PICKIT3, 作業系統 WIN7 64. DEVICE: PIC16F1709. 我讓電腦連接PICKIT3 時. 一直顯示連接失敗.
發表於: 12/5 17:30
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Re: 想請問process,23LC1024,23A256,47L04
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新會員
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好的~謝謝你的回覆~
主要是想拿SRAM來當作PUF的使用~ 我在發信給業務端看看~謝謝你的回覆~
發表於: 12/5 9:49
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Re: 想請問process,23LC1024,23A256,47L04
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管理員
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您好, 想請問為何需要知道此晶片的製程訊息呢? 由於晶片製程非為全部公開的技術資訊, 如果需要查詢時, 需要申請 NSCAR (Non-Standard Customer Action Request) 並填寫相關業務需求及終端銷售客戶資訊. 請與貴司的代理商或是我們的業務洽詢.
發表於: 12/1 15:20
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想請問process,23LC1024,23A256,47L04
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新會員
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Hi,
最近使用23LC1024/23A256/47L04這幾個sample在測試SRAM的時候 從data-sheet找不到process,可以請教這幾個part number內的SRAM 分別是用什麼?nm的process 嗎?
發表於: 12/1 14:00
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SAMD21J18A 如何打出test pattern做USB 眼圖測試
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新會員
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你好,
想請問,用SAMD21J18A如何打出test pattern做USB 眼圖測試,有相關reference code或application note嗎? 謝謝!
發表於: 12/1 10:17
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Re: SAMD21G18A 發生Hard Fault
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管理員
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您好, 如果電源不穩定時, 可以設置 Comfiguration Bit(FUSE)中的 BOD (BrownOut Detect), 這樣可以在工作電壓低於BOD設置時, 自動Reset MCU, 可避免MCU於低電壓狀態發生誤動作.
發表於: 12/1 9:30
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Re: ATMEGA32U4 flash issue
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管理員
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請問當前的韌體是否有對Flash進行寫入的設計, 比如 設計有 Bootloader 允許更新 Application 區域?
若當前韌體設計只有執行與讀取Flash時, 可以將 LockBit 設置起來避免發生可能的誤寫.
發表於: 12/1 9:27
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Re: SAMD21G18A 發生Hard Fault
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新會員
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您好,
之前一直出現Hard Fault問題,而且是在不同的位置,造成難以確定問題所在。 然而,今天我終於發現問題出在電源不穩,這導致MCU的運行出現混亂。
發表於: 2023/11/29 16:04
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ATMEGA32U4 flash issue
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初級會員
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您好!
目前開發ATMEGA32U4 發現快閃記憶體中的資料(特別是從位址 0x000 到 0x080)偶爾會被擦除 - 替換為128 位元組的0xFF,我們不確定根本原因。 您是否熟悉可能導致此問題的任何相關問題?感謝 BR Steven
發表於: 2023/11/29 10:12
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