dsPIC33EP512MU814/810 高溫USB通訊失效

作者 adamlin 於 2018年03月12日 18:18:59
1. 機台使用dsPIC33EP512MU814 (規格應耐+85度C)電路板進行高溫環境測試, 於溫度達40度C時即發生USB通訊失效.
2. 另改用台灣 Microchip 製作之 APP-EDF-11-2(dsPIC33EP512MU810, 規格應耐+85度C)測試, 於溫度達40度C時亦發生USB通訊失效.

=> 此2片電路板係使用不同廠牌之8MHz Cystal, 故推測非Cystal 問題, 上述測試軟件已簡化為僅測試 USB通訊部分, 測試時亦皆使用 Microchip 之 Beagle™ USB 12 Protocol Analyzer 作監測.

煩請各位先進提供建議及可能解決方案, 多謝協助!

來自: http://www.microchip.com.tw/newbb/viewtopic.php?forum=2&topic_id=22221&post_id=77830